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TECHNICAL ARTICLES我們都知道,三坐標(biāo)技術(shù)近年發(fā)展迅速,然后在這樣的科技高速發(fā)展的條件下,必然出現(xiàn)一些不如意的測量產(chǎn)品。對于三坐標(biāo)測量機這種高精度的測量儀器,準(zhǔn)確度就是判斷其好壞的基本因素。如何評定三坐標(biāo)測量機的標(biāo)準(zhǔn)是否合格呢?下面是關(guān)于三坐標(biāo)測量機的精度評定標(biāo)準(zhǔn)提供參考。
— di1部分:詞匯;
— 第2部分:測量線性尺寸的坐標(biāo)測量機;
— 第3部分:配置轉(zhuǎn)臺軸線為第四軸的坐標(biāo)測量機;
— 第4部分:掃描測量型坐標(biāo)測量機;
— 第5部分:多探針探測系統(tǒng)的坐標(biāo)測量機;
— 第6部分:計算高斯輔助要素的誤差評定。
主要包含三個主要參數(shù):長度測量允許示值誤差(MPEE)、允許探測誤差(MPEP);對于掃描測量,采用允許掃描探測誤差(MPETHP) 。
在進(jìn)行測量機的采購之前,用戶需要熟悉有關(guān)測量機的驗收標(biāo)準(zhǔn)。
該標(biāo)準(zhǔn)的部分定義了所有與坐標(biāo)測量機相關(guān)的詞匯定義。例如:"探測系統(tǒng)" 或"標(biāo)準(zhǔn)球",在這兒,我們就不再細(xì)述。
在測量空間的任意7種不同的方位,測量一組5種尺寸的量塊,每種量塊長度分別測量3次所有測量結(jié)果要在規(guī)定的MPEE 值范圍內(nèi)。
允許探測誤差(MPEP):
25點測量精密標(biāo)準(zhǔn)球,探測點分布均勻。允許探測誤差MPEP 值為所有測量半徑的值。
對于配備了轉(zhuǎn)臺的測量機來說,測量機的測量誤差在這部分進(jìn)行了定義。主要包含三個指標(biāo):徑向四軸誤差(FR)、切向四軸誤差(FT)、軸向四軸誤差(FA)。
這個部分適用于具有連續(xù)掃描功能的坐標(biāo)測量機。它描述了在掃描模式下的測量誤差。
大多數(shù)測量機制造商定義了"在THP 情況下的空間掃描探測誤差"。在THP 之外,標(biāo)準(zhǔn)還定義了在THN、TLP 和TLN 情況下的掃描探測誤差。
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